检查陶瓷封装芯片


构建可靠的集成电路(IC)芯片自动光学检测(AOI)系统意味着能够在高速生产线上检测出微裂纹、空洞、崩边、金属化缺陷以及尺寸偏移等问题。基于PC架构的系统,以Zebra图像采集卡为核心,搭配Aurora Imaging Library机器视觉软件或Aurora Design Assistant流程图式视觉软件,能够提供确定性的图像采集、强大的分析能力以及实时生产线控制功能。其结果是确保检测的一致性、减少漏检,同时为PLC、MES和QMS系统提供清晰的追溯能力。

An Automated Optical Inspection (AOI) system for IC chips, designed to detect micro-cracks, voids, and other defects at high speed, using a PC-based setup with Zebra frame grabbers and Aurora vision software for precise image analysis, real-time control, and seamless integration with industrial systems.

通过确定性的图像采集、Aurora分析和实时控制,为陶瓷封装芯片检测构建OEM AOI机器

Zebra frame grabbers enable precise, synchronized image acquisition by connecting multiple cameras, coordinating lighting and timing, streaming images seamlessly, onboard processing, and logging utilities for troubleshooting and optimization.

以高速和高精度实现陶瓷封装芯片的自动光学检测(AOI)

可靠的AOI从准确、同步的图像采集开始。Zebra图像采集卡可连接并同步多个面阵或线阵相机,提供硬件触发和基于编码器的定时功能,并协调闪光灯和输入/输出(I/O)以实现稳定的一致性照明。 它们以确定性的方式将图像传输到主机,同时支持板载处理,并确保以高速进行图像采集。Aurora Gecho日志记录工具可记录采集活动,帮助排查故障并识别性能瓶颈,从而优化流程。

Screenshot of the Aurora Imaging Library displaying chip inspection output, showcasing its machine vision capabilities for surface inspection, defect detection, metrology, and classification with results integrated into industrial systems via standard protocols.

简化设置、切换和控制流程

原始设备制造商(OEM)可以通过使用Aurora Imaging Library机器视觉软件实现检测标准化并加快部署。该软件支持在表面检查、计量、缺陷检测和分类方面进行定制应用程序开发。OEM 通过代码级定制构建先进的应用程序。 Zebra FDK(开发工具包)使Zebra图像采集卡的用户能够使用C/C++生成自定义FPGA配置,从而将高强度的图像处理任务从主机计算机的CPU转移到FPGA上,以优化检测性能。Aurora Imaging Library的结果,包括合格/不合格判定、测量值以及可选的置信度评分,会通过标准工业协议发布到PLC,以及MES、QMS和SQL系统中。

  1. 本页客户所用方案效果基于企业特定场景实测,实际效果可能因使用环境、操作方式等因素存在差异,具体以实际情况为准。且数据均来自客户,可能随时修订或更新。
  2. 除非另有说明,否则文中所述产品声明均基于Zebra内部测试。产品个体有差异,具体以实物为准。