Inspección de envasado de chips


El envasado de chips IC requiere una inspección rápida y precisa, ya que los pequeños defectos cosméticos y dimensionales pueden eludir las comprobaciones básicas y provocar costosos retoques y devoluciones. A medida que aumentan las velocidades de la línea, los equipos necesitan una calidad de imagen 2D constante, una captura de datos sincronizada con varias cámaras y un flujo de datos determinista. Esta solución ofrece una adquisición de alta velocidad con una imagen 2D de alta resolución y herramientas basadas en reglas que se adaptan a los tipos de paquetes, al tiempo que se integran en las celdas de inspección y análisis existentes. Los resultados incluyen un mayor rendimiento en el primer paso, menos escapes y registros de calidad auditable.

Machine Vision Frame Grabber Photography Website IC Packaging Inspection 4x3 3600

Mejore la calidad del embalaje de IC con una inspección 2D de alta resolución y una captura de imágenes determinista que se adapte a sus celdas de inspección existentes

Zebra frame grabbers enable precise, synchronized image acquisition by connecting multiple cameras, coordinating lighting and timing, streaming images seamlessly, onboard processing, and logging utilities for troubleshooting and optimization.

Capture características ultrafinas a la velocidad de la línea

Las tarjetas capturadoras de imágenes de Zebra se emparejan con cámaras de escaneo de área o de escaneo de línea de alta resolución para capturar imágenes 2D nítidas a la velocidad máxima de la línea, preservando la impresión fina, el contraste de los bordes y la textura superficial sutil en los paquetes moldeados. Los capturadores de imágenes Rapixo CXP admiten CoaXPress hasta CXP-12 con PoCXP para alimentar y adquirir de una a cuatro cámaras, mientras que Rapixo CL/CL Pro admite Camera Link 2.1, incluidos los modos Full/80-bit, para una adquisición determinista con descarga FPGA a bordo y amplios E/S auxiliares para disparadores y codificadores. El desencadenamiento determinista coordina las cámaras y la iluminación, el almacenamiento en búfer a bordo evita las caídas y la sincronización de varias cámaras cubre las vistas superior, lateral y frontal en iluminación de campo brillante, campo oscuro o coaxial.

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Añadir inspección de perfil 3D

Para la coplanaridad, el despeje, la deformación y la topografía del paquete que el 2D puede perder, integre los sensores de perfil 3D AltiZ de Zebra. La serie AltiZ ofrece una resolución ultraalta con más de 4.200 puntos por perfil y velocidades de captura de hasta 14.000 perfiles por segundo, lo que produce mapas de profundidad y nubes de puntos fiables para comprobaciones precisas de la altura de la punta del líder, el arco del paquete y el relieve de la marca a velocidades de línea de semiconductores. Su diseño de doble cámara y láser único reduce las oclusiones en las uniones críticas de la superficie, mientras que una carcasa IP67, GigE Vision con PoE, entradas de codificador y E/S M12 simplifican la implementación en celdas duras y con espacio limitado y permiten la sincronización de múltiples sensores para una cobertura completa de la parte superior/lateral.

Machine Vision Photography Application Damaged Chip Detection 16x9 3600

Automatización de las comprobaciones de calidad del embalaje de chips

El Aurora Design Assistant de Zebra agiliza el desarrollo de aplicaciones y la conversión con un IDE basado en diagramas de flujo que construye la lógica de inspección sin codificación tradicional, diseña una HMI basada en web para los operadores y ejecuta proyectos de varias cámaras en PC y controladores utilizando CoaXPress, GigE Vision o USB3 Vision. Integra las comunicaciones para PLC y MES a través de E/S discretas y protocolos industriales como EtherNet/IP, PROFINET, Modbus, OPC UA y TCP/IP, de modo que los resultados de aprobado/rechazado, los tipos de defectos y las medidas controlen las puertas de rechazo, la marcación de piezas y la trazabilidad. El OCR y la detección de objetos basados en aprendizaje profundo, combinados con la metrología clásica, el emparejamiento de patrones y el OCR/OCV, permiten una verificación de marcas y comprobaciones dimensionales robustas. El control de recetas/versión, el monitoreo en tiempo de ejecución y las utilidades de perfilado también admiten la auditoría y la mejora continua.