Chipverpackungsprüfung


Der Bedarf an IC-Chip-Verpackungen erfordert eine schnelle, präzise Inspektion, da winzige kosmetische und dimensionale Fehler grundlegende Überprüfungen umgehen und teure Nacharbeiten und Rücksendungen auslösen können. Da die Produktionsliniengeschwindigkeiten steigen, benötigen die Teams eine konsistente 2D-Bildqualität, eine synchronisierte Mehrkamera-Aufnahme und einen deterministischen Datenfluss. Diese Lösung bietet eine hochgeschwindige Datenerfassung mit hochauflösender 2D-Bildgebung und regelbasierten Tools, die sich an die Pakettypen anpassen, und passt sich in bestehende Inspektionseinheiten und Analysen ein. Die Ergebnisse umfassen eine höhere Erstgangsausbeute, weniger Ausschuss und überprüfbare Qualitätsaufzeichnungen.

Machine Vision Frame Grabber Photography Website IC Packaging Inspection 4x3 3600

Verbessern Sie die Qualität der IC-Verpackung mit hochauflösender 2D-Inspektion und deterministischer Bildaufnahme, die in Ihre bestehenden Inspektionzellen passt.

Zebra frame grabbers enable precise, synchronized image acquisition by connecting multiple cameras, coordinating lighting and timing, streaming images seamlessly, onboard processing, and logging utilities for troubleshooting and optimization.

Erfassen Sie ultrafeine Merkmale bei Linienrate.

Zebra Frame Grabber Cards werden mit hochauflösenden Flächen- oder Zeilenscan-Kameras kombiniert, um scharfe 2D-Bilder bei voller Linienrate aufzunehmen und dabei feine Beschriftungen, Kantenkontraste und feine Oberflächenstrukturen an geprägten Verpackungen zu erhalten. Rapixo CXP Frame Grabbers unterstützen CoaXPress bis zu CXP-12 mit PoCXP zur Stromversorgung und Aufnahme von einer bis vier Kameras, während Rapixo CL/CL Pro Camera Link 2.1 unterstützt, einschließlich Full/80-Bit-Modi, für deterministische Aufnahme mit Onboard-FPGA-Entlastung und ausreichenden Hilfs-I/Os für Trigger und Encoder. Deterministisches Triggering koordiniert Kameras und Beleuchtung, Onboard-Pufferung verhindert Ausfälle, und Multi-Kamera-Sync deckt Ansichten von oben, von der Seite und von den Anschlüssen bei hellem Feld, dunklem Feld oder koaxialer Beleuchtung ab.

Altiz 4200 Photography Website IC Chip Inspection 16x9 3600

Fügen Sie die 3D-Profilinspektion hinzu

Für die Messung von Koplanarität, Abstand, Verformung und Gehäusetopographie, die mit 2D übersehen werden kann, integrieren Sie Zebra AltiZ 3D Profil-Sensoren. Die AltiZ Serie bietet eine extrem hohe Auflösung mit mehr als 4.200 Punkten pro Profil und Erfassungsraten von bis zu 14.000 Profile pro Sekunde. Dadurch werden zuverlässige Tiefenkarten und Punktwolken für präzise Prüfungen der Lötstiftspitzenhöhe, des Gehäusebogens und der Markierungserhöhungen bei Halbleiterliniengeschwindigkeiten erzeugt. Das Dual-Kamera-, Einzel-Laser-Design reduziert Verdeckungen an kritischen Oberflächenverbindungen. Ein IP67-Gehäuse, GigE Vision mit PoE, Encoder-Eingänge und M12 I/O vereinfachen die Implementierung in rauen, platzbeschränkten Zellen und ermöglichen die Synchronisierung mehrerer Sensoren für eine vollständige Ober-/Seitenabdeckung.

Machine Vision Photography Application Damaged Chip Detection 16x9 3600

Automatisierung der Qualitätskontrolle der Chipverpackung

Der Zebra Aurora Design Assistant strafft die Anwendungsentwicklung und den Umstieg mit einer flussdiagrammbasierten IDE, die Inspektionslogik ohne traditionelle Programmierung erstellt, eine webbasierte HMI für Bediener entwirft und Mehrkamera-Projekte auf PCs und Controllern mit CoaXPress, GigE Vision oder USB3 Vision ausführt. Er integriert die Kommunikation für PLCs und MES über diskrete E/A und industrielle Protokolle wie EtherNet/IP, PROFINET, Modbus, OPC UA und TCP/IP, so dass Pass/Fail, Defekttypen und Messungen Ablehnungstore, Teilmarkierung und Rückverfolgbarkeit steuern. Deep learning-basierte OCR und Objekterkennung, kombiniert mit klassischer Messtechnik, Mustererkennung und OCR/OCV, ermöglichen eine robuste Markenprüfung und Dimensionskontrolle. Rezept/Versionskontrolle, Laufzeitüberwachung und Profilierungstools unterstützen ebenfalls die Überprüfbarkeit und kontinuierliche Verbesserung.