Medindo a posição do wafer


Manusear wafers é uma tarefa precisa onde até o menor desalinhamento pode causar problemas durante o processo de litografia, levando a trocas mais longas e menores rendimentos. Inspeções guiadas por visão oferecem imagens de alta resolução e medições precisas. A adição de detecção 3D verifica a posição, inclinação e orientação dos wafers enquanto estão em movimento, ajudando os robôs a evitar tocar superfícies frágeis. Controles automatizados em linha melhoram a qualidade, aceleram os ciclos e aumentam os rendimentos.

Zebra Technologies integrates vision-guided inspections and 3D sensing to precisely measure wafer position, tilt, and orientation, ensuring delicate handling, enhanced efficiency, and improved yields in wafer processing.

Meça com confiança a posição da ranhura do wafer usando imagens 2D e validação 3D para linhas mais rápidas e melhor rendimento

A Zebra Iris GTX camera is inspecting a semiconductor wafer notch, using high-resolution imaging along with Aurora machine vision software to analyze geometric features, convert pixel distances to micrometers, and ensure precise alignment through user-defined tolerances.

Meça a posição da ranhura da wafer com precisão

As câmeras inteligentes da Zebra capturam imagens de alta resolução das bordas e entalhes do wafer. Essas imagens são analisadas usando o software de visão de máquina Aurora. Após calibrar a óptica uma vez, o software converte as distâncias de pixel em micrômetros. Ele então combina arcos, linhas e centros de círculos com a borda da wafer para determinar o ângulo e o deslocamento da ranhura, verificando-os contra as tolerâncias definidas pelo usuário. Se houver algum desalinhamento, uma correção para ajustar a wafer pode ser feita antes da próxima etapa, garantindo que ela permaneça alinhada com precisão.

The Zebra AltiZ 4200 3D profile sensor captures detailed 3D point clouds of semiconductor wafer edges and notches as they move along a conveyor, enabling precise verification of wafer position, tilt, and bow by combining 2D and 3D measurements, all while efficiently managing glossy surfaces and maintaining accuracy even at high production speeds.

Adicione validação 3D para precisão em movimento

Os sensores de perfil 3D AltiZ capturam nuvens de pontos tridimensionais (3D) da borda e da ranhura da wafer enquanto os transportadores se movem, verificando a posição, a inclinação e a curvatura da wafer sem parar a linha.   O sistema compara medidas 2D com a geometria 3D para evitar erros de brilho, ajustando automaticamente o manuseio do robô ou acionando alarmes conforme necessário. Ele gerencia efetivamente superfícies brilhantes e mantém o alinhamento em velocidades típicas de produção.

Screenshot of the Aurora Imaging Library interface, showcasing precise wafer position measurements tagged with an ID, enabling automated out-of-spec flagging and detailed adjustment records for quality control and trend analysis.

Transforme os dados de inspeção em controle de processo e rastreabilidade

A plataforma de software Zebra Aurora facilita o compartilhamento de resultados de alinhamento diretamente com um Sistema de Execução de Manufatura (MES) e painéis de controle estatístico de processo (SPC). O software Aurora Imaging Library captura medidas precisas das posições da wafer. Cada medida é cuidadosamente marcada com informações como lotes, ferramentas e IDs de receita, tornando as auditorias rastreáveis e permitindo uma forte análise de tendência. Esta solução all-in-one garante que as wafers atendam a rigorosos padrões de qualidade, sinaliza automaticamente posições fora das especificações e mantém um registro detalhado de quaisquer ajustes feitos.